संयुक्त परीक्षण कार्य समूह, जिसे JTAG भी कहा जाता है, IEEE मानक 1149.1 के लिए एक आम नाम है। यह बोर्ड—लेवल इंटरकनेक्ट का परीक्षण करने के लिए एक निर्धारित विधि को पारिभाषित करता है, जिसे बाउंड्री स्कैन भी कहा जाता है। संक्षेप में, JTAG का निर्माण आम समस्याओं के लिए परीक्षण करने के एक तरीके के रूप में किया गया था, लेकिन अंतत: यह डिवाइसों को कंफिगर करने का तरीका बन गया है। JTAG हार्डवेयर पांच अलग-अलग संकेतों से जानकारी को इंटरप्रेट करता है: TDI (टेस्ट डाटा इन), TDO (टेस्ट डाटा आउट), TMS (टेस्ट मोड सेलेक्ट), TCK (टेस्ट क्लॉक), और TRST (टेस्ट रिपोर्ट-वैकल्पिक)।
बाउंड्री-स्कैन तकनीक का प्रमुख फायदा एप्लीकेशन लॉजिक की फिक्र किए बिना डिवाइस इनपुट्स पर डाटा का अवलाेकन करने और आउटपुट्स पर डाटा को नियंत्रित करने की क्षमता होना है। साधारण परीक्षण उत्पादन की कमियों का पता लगा सकते हैं, जैसे कि अनकनेक्टेड पिन्स, लापता डिवाइस, सर्किट बोर्ड पर गलत या घूमा हुआ डिवाइस, और यहां तक कि फेल या डेड डिवाइस।
Samtec JTAG कनेक्टर और केबल समाधान दोनों ही प्रदान करता है।
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