JTAGコネクター、Joint Test Action Group

Joint Test Action Group(JTAG)はIEEE規格1149.1の一般的な呼称です。この規格は、バウンダリースキャンとも呼ばれるボードレベル インターコネクトの試験方法を定義します。もともとJTAGは一般的な問題について試験を行う方法の一つとして作成されましたが、最近ではデバイスの構成方法の一つとなりつつあります。JTAGハードウェアは5種類のシグナル:TDI (Test Data In)、TDO (Test Data Out)、TMS (Test Mode Select)、TCK (Test Clock)、TRST(Test Report-optional)から情報を読み取ります。

バウンダリースキャン技術の主な利点は、アプリケーションのロジックに関わらず、デバイスの入力時にデータを解析し、出力時にデータを制御する機能です。簡単な試験で、未接続のピン、見つからないデバイス、回路ボード上の位置などが不適切なデバイス、さらには故障したデバイスや機能していないデバイスなど、製造欠陥を検出することができます。

JTAGロゴ、Joint Test Action Groupロゴ

SamtecはJTAGコネクターとケーブルソリューションの両方を提供しています。

標準コネクター

7ピンを外した標準コネクター

推奨されるケーブル嵌合

jtagコネクター 画像

準拠シリーズ

  • EJH - .100"シュラウドIDCイジェクターヘッダー
  • FTSH - .050"マイクロ ターミナルストリップ
  • HHSC - .100" JTAGリボン同軸ケーブル アッセンブリー
  • HMTSW - .100"高温可変ポスト高さターミナルストリップ
  • HTSS - .100"高温シュラウド ターミナルストリップ
  • HTST - .100"高温シュラウド ターミナルストリップ、ケーブル嵌合
  • IDSD - .100"スリムボディ2列、IDCリボンケーブルアッセンブリー、ソケット
  • IDSS - .100"スリムボディ1列、IDCリボンケーブル アッセンブリー、ソケット
  • MTLW - .100"低背型可変式ポスト高さターミナルストリップ
  • MTSW - .100"可変ポスト高さターミナル ストリップ
  • TLW - .100"低背型ターミナルストリップ
  • TSM - .100"表面実装ターミナル ストリップ
  • TSSH - .100"エンド シュラウド ターミナルストリップ
  • TST - .100"シュラウド ターミナルストリップ、ケーブル嵌合
  • TSW - .100"ターミナルストリップ
  • ZSS - .100"シュラウド エレベーテッド ターミナル ストリップ
  • ZST - .100"シュラウド エレベーテッド ターミナルストリップ、ケーブル嵌合

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