高性能
微型耐用型
解决方案
技术支持
工业物联网
IIoT通过提高效率和前所未有的运营和财务益处,正在显著改变商品和服务的生产与交付。随着智能机器收集数据来驱动AI和预测分析,工业流程变得更加敏捷、流畅。其结果是,IIoT减少了停机时间,增强了质量控制,并支持许多其他解决方案中的资产跟踪,以实现更好的商业智能。
Samtec提供微型高速耐用型解决方案,以连接和维持关键系统,这些系统中的停机可能造成高风险。
智能城市、电网和工厂
智能城市、智能电网和智能工厂中使用的多向数据网络正在迅速取代传统的线性方式,以为企业和社区提供更高的价值和效率。所有系统资产之间的无线连接为智能电网提供了从发电到最终使用的实时控制,并通过更高的敏捷性和可靠性r智能工厂在市场中更具竞争力。
智能城市中基础设施和技术的集成,让人们能够以给日常生活带来最大益处和效率的方式与周围环境交互。从交通和公共运输到安全和公用事业,都存在着与城市的每个层级连接的机会。
Samtec提供灵活可靠的高速性能解决方案,支持这些数据网络实时收集和处理数据所需要的连接。
针对超越典型标准以实现极端应用的产品进行测试的新举措
严苛环境测试是Samtec的一项举措,旨在对我们的产品进行超出典型行业标准和规范的测试,该测试当中的许多标准是根据生产耐用型产品行业的共同要求制定的。我们的一些产品还会经过附加测试,以确保它们足以适用于工业、军事、汽车、太空和其他极端应用。
测试包括:
Samtec的SET产品已获得批准用于NASA的D级任务,此类任务需要为LEO卫星、SmallSats、CubeSats和其他太空探索应用提供高可靠性、快速转向和经济高效的解决方案。
Samtec还利用NASA放气数据确定特定产品是否符合NASA的ASTM E595-77/84/90测试要求。访问outgassing.nasa.gov获取数据。
请访问严苛环境测试页面或联系set@samtec.com了解更多信息。
测试 | SET | E.L.P.™ | DQT |
---|---|---|---|
气密 | X* | X* | N/A |
法向力 | X* | X* | X |
热老化 | X* | X* | X |
对接/拆拔/耐用性(240小时) | X(100% RH、250个循环) | X*(90-98% RH、100个循环) | X(90-98% RH、100个循环) |
IR / DWV | X(70,000英尺高程) | X* | X |
CCC | X* | X* | X |
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测 | X(40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴) | X*(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) | X(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) |
温度循环(500个周期) | X | N/A | N/A |
非工作类温度 | X | N/A | N/A |
静电放电 (ESD) | X | N/A | N/A |
10年混合流动气体腐蚀测试(MFG) | N/A | X | N/A |
对接次数(250至2,500次) | N/A | X | N/A |
*作为初始设计资质测试(DQT)的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。 |
严格的测试旨在评估端子在模拟的贮藏/现场条件下的耐受性
E.L.P.™产品依照严格的标准进行了测试,以评估端子在模拟的贮藏和现场条件下的耐受性。
有关Samtec的E.L.P.™计划的详情、合格产品与测试结果列表, 请访问samtec.com/ELP或发送电子邮件至客户工程支持小组ASG@samtec.com
测试 | SET | E.L.P.™ | DQT |
---|---|---|---|
气密 | X* | X* | X |
法向力 | X* | X* | X |
热老化 | X* | X* | X |
对接/拆拔/耐用性(240小时) | X(100% RH、250个循环) | X*(90-98% RH、100个循环) | X(90-98% RH、100个循环) |
IR / DWV | X(70,000英尺高程) | X* | X |
CCC | X* | X* | X |
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测 | X(40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴) | X*(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) | X(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) |
温度循环(500个周期) | X | N/A | N/A |
非工作类温度 | X | N/A | N/A |
静电放电 (ESD) | X | N/A | N/A |
10年混合流动气体腐蚀测试(MFG) | N/A | X | N/A |
对接次数(250至2,500次) | N/A | X | N/A |
*作为初始设计资质测试(DQT)的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。 |
所有Samtec系列都需经过设计资质测试
所有Samtec系列都需经过设计资质测试(DQT),该测试包括:
测试 | SET | E.L.P.™ | DQT |
---|---|---|---|
气密 | X* | X* | X |
法向力 | X* | X* | X |
热老化 | X* | X* | X |
对接/拆拔/耐用性(240小时) | X(100% RH、250个循环) | X*(90-98% RH、100个循环) | X(90-98% RH、100个循环) |
IR / DWV | X(70,000英尺高程) | X* | X |
CCC | X* | X* | X |
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测 | X(40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴) | X*(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) | X(100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴) |
温度循环(500个周期) | X | N/A | N/A |
非工作类温度 | X | N/A | N/A |
静电放电 (ESD) | X | N/A | N/A |
10年混合流动气体腐蚀测试(MFG) | N/A | X | N/A |
对接次数(250至2,500次) | N/A | X | N/A |
*作为初始设计资质测试(DQT)的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。 |
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