这场由Scott McMorrow在Electronica 2014大会上主持的研讨会,讨论了用于高性能系统的精确信号完整性建模的需要。它包括有关精确测量、材料特性、电磁解算器对测量的基准测试以及统计分析的讨论。要查找我们将参加的其他贸易展览、演讲和研讨会,请访问我们的活动页面: https://blog.samtec.com/events/ 网站:http://www.samtec.com
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