SI-Testplattform zur Evaluierung von Samtecs BE70A 70 GHz, Bulls Eye® zweireihiges Hochleistungs-Testsystem.
Übersicht
Das hochdichte Array-Design und die fortschrittlichen Verkabelungslösungen des Bulls Eye® Hochleistungs-Testsystems ermöglichen eine optimale Leistung. Kompressionsschnittstellen, kleiner Footprint und hohe Steckzyklenanzahl machen Bulls Eye® zu einer perfekten Wahl für hochleistungsfähige Testapplikationen. Das 70 GHz Bulls Eye® SI-Evaluierungskit (REF-213864-01) bietet Systementwicklern, HF-Ingenieuren und SI-Ingenieuren eine einfach zu bedienende Lösung zum Testen des 70 GHz, Bulls Eye® zweireihigen Hochleistungs-Testsystems.
Das 70 GHz Bulls Eye® SI Evaluierungskit liefert ein hochwertiges System mit einem robusten mechanischen Design. Bitte kontaktieren Sie die technischen Experten von Samtec unter [E-Mail geschützt] oder [E-Mail geschützt] für weitere Informationen.
Eigenschaften
- Einzel-Leiterplattensystem mit kompaktem Formfaktor.
- Jede Leiterplatte enthält eine BE70B-Kompressionsschnittstelle (BE70B-J-S-2-04), die ein einfaches Stecken ermöglicht und Löten überflüssig macht.
- Das Kit enthält vier BE70C (BE70C-S-185P-2-02-0305) Bulls Eye®-Kabelkonfektionen.
- Routet Hochfrequenz-Referenzsignale (8 insgesamt) von BE70A zu Präzisions-RF-Kompressionsmontage-Steckverbindern.
- Optimierte SI-Leistung durch Samtec Final Inch® BOR-PCB-Leiterbahnen.
- Ermöglichen Sie Zeitdomänenmessungen über eine direkte Verbindung zu TDR/TDTs.
- Ermöglichen Frequenzbereichsmessungen über eine direkte Verbindung mit VNAs.
Applikationen
- IC Charakterisierungskits
- 112 Gbit/s PAM4 Transceiver-Entwicklungskits
- FPGA Evaluierungskits
- FPGA Entwicklungskits
Bestellinformationen
Siehe Zeichnung REF-213864-01 für weitere Details.
Kontakt [E-Mail geschützt] für zusätzliche Bestellinformationen.
