SI-Testplattform zur Evaluierung von 0.80 mm NovaRay® Steckverbindern mit extremer Dichte und Leistung.
Übersicht
0.80 mm NovaRay® Steckverbinder von Samtec mit extremer Dichte und Leistung kombinieren voll abgeschirmtes Differentialpaar-Design und zwei zuverlässige Kontaktpunkte für extreme Dichte und extreme Leistung. Das NovaRay® SI Evaluierungskit bietet Systemdesignern und SI-Ingenieuren eine einfach zu bedienende Lösung zum Testen von NovaRay®-Steckverbindern.
Das NovaRay® SI-Evaluierungskit liefert ein hochwertiges System mit robustem mechanischen Design. Es kann im Stand-Alone-Betrieb für NovaRay®-Steckverbinder genutzt werden. Bitte kontaktieren Sie die technischen Experten von Samtec unter [E-Mail geschützt] für weitere Informationen.
Eigenschaften
- Zweiteiliges Leiterplattensystem mit kompaktem Formfaktor
- Eine Leiterplatte enthält einen Steckverbinder der NVAM-C-Serie(NVAM-DP-02-2-02.0-S-2-K-TR)
- Die zweite Leiterplatte enthält einen Steckverbinder der NVAF-Serie (NVAF-DP-02-2-05.0-S-2-K-TR)
- Unterstützt verschiedene NVAM/NVAF-Stapelhöhen (7 und 10mm)
- Routet Highspeed-Differenzialpaare (16 insgesamt) von NVAM/NVAF-Steckverbindern zu Steckverbindern hoher Präzision.
- Unterstützt mehrere hochpräzise RF-Steckverbinderoptionen (2.4 mm/2.92 mm SMA)
- Optimierte SI-Leistung über Samtec Final Inch® BOR PCB Leiterbahnen
- Ermöglichen Zeitdomänenmessungen über direkte Verbindung mit TDR/TDTs
- Ermöglichen Frequenzdomänenmessungen über direkte Verbindung mit VNAs
Applikationen
- FPGA/SoC-Entwicklungsboards
- Server
- Speicher
- Netzwerke
- Tests und Messungen
- Kabelkommunikation
- Drahtlose Kommunikation
Bestellinformationen
Siehe Zeichnung REF-212761-X.XX-XX für weitere Details.
Kontakt [E-Mail geschützt] für zusätzliche Bestellinformationen.
