NovaRay® SI Evaluierungskit 

NovaRay® SI Evaluierungskit 

SI-Testplattform zur Evaluierung von 0.80 mm NovaRay® Steckverbindern mit 0.80 mm-Raster sowie extremer Dichte und Leistung.


Übersicht

0.80 mm NovaRay® Steckverbinder von Samtec mit extremer Dichte und Leistung kombinieren voll abgeschirmtes Differentialpaar-Design und zwei zuverlässige Kontaktpunkte für extreme Dichte und extreme Leistung. Das NovaRay® SI Evaluierungskit bietet Systemdesignern und SI-Ingenieuren eine einfach zu bedienende Lösung zum Testen von NovaRay®-Steckverbindern. 

Das NovaRay® SI-Evaluierungskit liefert ein hochwertiges System mit robustem mechanischen Design. Es kann im Stand-Alone-Betrieb für NovaRay®-Steckverbinder genutzt werden. Bitte kontaktieren Sie die technischen Experten von Samtec unter​​​​​​​ [E-Mail geschützt] für weitere Informationen.

NovaRay SI Evaluierungskit 
Samtec Teilenummer REF-212761-X.XX-XX abgebildet

Eigenschaften

  • Zweiteiliges Leiterplattensystem mit kompaktem Formfaktor
  • Eine Leiterplatte enthält einen Steckverbinder der NVAM-C-Serie(NVAM-DP-02-2-02.0-S-2-K-TR
  • Die zweite Leiterplatte enthält einen Steckverbinder der NVAF-Serie (NVAF-DP-02-2-05.0-S-2-K-TR)
  • Unterstützt verschiedene NVAM/NVAF-Stapelhöhen (7 und 10mm)
  • Routet Highspeed-Differenzialpaare (16 insgesamt) von NVAM/NVAF-Steckverbindern zu Steckverbindern hoher Präzision.
  • Unterstützt mehrere hochpräzise RF-Steckverbinderoptionen (2.4 mm/2.92 mm SMA)
  • Optimierte SI-Leistung über Samtec Final Inch® BOR PCB Leiterbahnen
  • Ermöglichen Zeitdomänenmessungen über direkte Verbindung mit TDR/TDTs
  • Ermöglichen Frequenzdomänenmessungen über direkte Verbindung mit VNAs

Applikationen

  • Server
  • Speicher
  • Netzwerke
  • Tests und Messungen
  • Kabelkommunikation
  • Drahtlose Kommunikation

Bestellinformationen

Siehe Zeichnung REF-212761-X.XX-XX für weitere Details.

Kontakt [E-Mail geschützt] für zusätzliche Bestellinformationen.

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