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Edge Rate® SI-Evaluierungskit mit 0,635 mm-Raster
Edge Rate® SI-Evaluierungskit mit 0,635 mm-Raster
Edge Rate® SI-Evaluierungskit mit 0,635 mm-Raster
Edge Rate® SI-Evaluierungskit mit 0,635 mm-Raster
SI-Testplattform zur Evaluierung von 0,635 mm-Raster Edge Rate® – Robuste Highspeed-Leisten
Samtecs robuste Edge Rate®-Hochgeschwindigkeitsleisten im 0,635 mm-Raster verwenden das Edge Rate®-Kontaktsystem, das für Anwendungen mit hohen Steckzyklen und Hochgeschwindigkeitssystemen konzipiert ist. Die ERM6 platinenmontierten Klemmen oder Stiftleisten passen zu den ERF6 platinenmontierten Buchsen.
Das Edge Rate® SI-Evaluierungskit im 0,635 mm Raster (REF-224718-X.XX-XXX) bietet Systementwicklern und SI-Ingenieuren eine einfach zu handhabende Lösung zum Testen von robusten Edge Rate®-Hochgeschwindigkeitsleisten im 0,635 mm Raster. Das Edge Rate® SI-Evaluierungskit im 0,635 mm Raster liefert ein hochwertiges System mit robustem mechanischen Design. Bitte kontaktieren Sie die technischen Experten von Samtec unter [E-Mail geschützt] für weitere Informationen.
Abgebildet: Samtec-Teilenummer REF-224718-X.XX-XXX
- Zweiteiliges Leiterplattensystem mit kompaktem Formfaktor
- Eine Leiterplatte enthält Steckverbinder der Serie ERM6 (ERM6-30-01.5-L-DV-A)
- Die zweite Leiterplatte enthält ERF6-Serienstecker (ERF6-30-03.5-L-DV-A)
- Führt Hochgeschwindigkeits-Differenzialpaare (8 insgesamt) von robusten Edge Rate®-Streifen im Raster 0,635 mm zu hochpräzisen HF-Steckverbindern
- Unterstützt mehrere HF-Steckverbinderoptionen mit hoher Präzision
- Optimierte SI-Leistung über Samtec Final Inch® BOR PCB Leiterbahnen
- Ermöglichen Zeitdomänenmessungen über direkte Verbindung mit TDR/TDTs
- Ermöglichen Frequenzdomänenmessungen über direkte Verbindung mit VNAs
- Fabrik-Automatisierung
- Prozesssteuerung
- Medizinische Geräte
- Geräteausstattung
- Embedded Vision
- Intelligente Sensorplattformen
- Industrielle drahtgebundene Konnektivität
- Industrielle drahtlose Konnektivität