SI-Testplattform zur Evaluierung von LP Array™ Open-Pin-Field Arrays mit niedrigem Profil
Samtec LP Array™ Open-Pin-Field-Arrays unterstützen Highspeed-Applikationen mit hoher Dichte bei maximaler Routing- und Erdungsflexibilität. Das LP Array™ SI Evaluierungskit bietet Systemdesignern und SI-Ingenieuren eine einfach zu nutzende Lösung zum Testen von LP Array™ Steckverbindern.
Das LP Array™ SI Evaluierungskit liefert ein hochwertiges System mit robustem mechanischen Design. Es kann im Stand-Alone-Betrieb für LP Array™-Steckverbinder verwendet werden. Bitte kontaktieren Sie die technischen Experten von Samtec unter [E-Mail geschützt] für weitere Informationen.
Siehe Zeichnung REF-200470-X.XX-X.XX-X.XX-01 für weitere Details.
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