Joint Test Action Group（JTAG）はIEEE規格1149.1の一般的な呼称です。この規格は、バウンダリースキャンとも呼ばれるボードレベル インターコネクトの試験方法を定義します。もともとJTAGは一般的な問題について試験を行う方法の一つとして作成されましたが、最近ではデバイスの構成方法の一つとなりつつあります。JTAGハードウェアは5種類のシグナル：TDI (Test Data In)、TDO (Test Data Out)、TMS (Test Mode Select)、TCK (Test Clock)、TRST(Test Report-optional)から情報を読み取ります。
バウンダリースキャン技術の主な利点は、アプリケーションのロジックに関わらず、デバイスの入力時にデータを解析し、出力時にデータを制御する機能です。簡単な試験で、未接続のピン、見つからないデバイス、回路ボード上の位置などが不適切なデバイス、さらには故障したデバイスや機能していないデバイスなど、製造欠陥を検出することができます。
