過酷環境テスト (SET)

過酷環境テスト (SET)

過酷環境テスト (SET) は、一般的な業界標準や仕様を超えたテストを特定の製品に行うSamtecのイニシアチブです。なお、一般的な業界標準や仕様の多くは過酷な環境でのアプリケーション/業界の共通要件です。

高機能の業界標準インターコネクトに対する需要の高まりによって、SETは堅牢な軍/航空産業およびアプリケーションだけでなく、自動車、工業、医療産業のアプリケーションに対しても性能における信頼性を提供するのに有効であることが実証されています。

厳しい環境下でのテスト ビデオ
業界およびアプリケーション

テスト仕様

Samtecインターコネクトは、どんなアプリケーションでも優れた品質と耐久性を得られるよう、業界の限界を押し広げる幅広い標準検査手順の対象となります。厳しい環境下でのテストには、Samtecの標準設計適格性試験(DQT)とExtended Life Product™(E.L.P.™)試験に加え、より極端/過酷なアプリケーションや環境で使用されるインターコネクト システム向けの追加のテストが含まれます。

SamtecのSET製品は、高信頼性のある短納期でコスト効率に優れたソリューションが求められるNASAのクラスDミッションに合格し、LEO / GEO衛星、小型衛星、CubeSat、その他宇宙探索用途で使用されています。

Samtec は、NASA アウトガスデータを使用し、特定製品が NASA の ASTM E595-77/84/90 テスト要件を満たすかどうか決定します。詳細は、Samtec の アウトガス FAQ をご覧ください。

SETに含まれる追加テスト:

  • VITA 47.1 モジュール挿入
  • VITA 47.3 湿度
  • VITA 47.1 耐衝撃等級 OS2
  • VITA 47.1 振動階級 VS3

  • VITA 47.1 温度サイクル級 C4を上回る
  • VITA 47.1 非稼働クラス C4を上回る
  • VITA 47.1 静電放電(ESD)
  • VITA 47.1 DWV用高度を上回る

製品テストガイド

製品テストガイド

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SET認定製品

Samtecは、堅牢な環境のために設計されたコスト効率の良いインターコネクト ソリューションの幅広い製品ポートフォリオを提供します。すべてのテストは社内で行われ、特定のアプリケーション要件に対するリクエストに応じてカスタマイズ可能です。[保護されたEメール] 詳細情報および入手可能なテスト結果についてはお問い合わせください。

Tiger Eye 1.27 mmピッチ
​​​​​​​マイクロラギッド システム
SFM TFM
SEARAY 1.27 mmピッチ
高密度アレー
SEAF SEAM
Razor Beam 0.50 mmピッチ
雌雄同形ストリップ
LSHM
.100"(2.54 mm)ピッチ
角型ポスト ヘッダー&ソケット
SMM TSM
.050"(1.27 mm)ピッチ
ヘッダー&ソケットシステム
CLP FTSH
Edge Rate® 0.80 mmピッチ
ラギッド ハイスピード ストリップ
ERF8 ERM8
Tiger Eye™
2.00 mmピッチ
堅牢なシステム
S2M T2M
mPOWER® 2.00 mmピッチ
ウルトラマイクロ電源
コネクター
QRF8 QRM8
SEARAY 0.80 mmピッチ
超高密度オープンピン
フィールドアレー
SEAF8 SEAM8
URSA™ I/O 1.00 mm Pitch
Ultra Rugged I/O System
URSA I/O 1 mm Pitch Ultra Rugged I/O System
Tiger Eye™ .050" Pitch Discrete
Wire Cable Assembly
Tiger Eye DW
Micro Mate 1.00 mmピッチ
ディスクリート ワイヤーケーブル アッセンブリー
1MMDW
近日発売!
ハイスピード マイクロ
同軸&Twinaxケーブル アッセンブリー
ハイスピード マイクロ同軸
近日発売!
FireFly
Micro Flyover System
ECUO
近日発売!

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