Mit zunehmenden Datenraten nehmen die Leiterbahnlängen auf PCBs ab. Die Highspeed-Kabelbaugruppen von Samtec vereinfachen das Leiterplattendesign und begrenzen die Signalverschlechterung bei Anwendungen mit hohen Datenraten. Samtec Kabelkonfektions-SI-Evaluierungskits bieten Systemdesignern und SI-Ingenieuren einfach zu nutzende Plattformen zum Testen vieler beliebter Kabelkonfektionsprodukte von Samtec.
Jedes Kit enthält Evaluierungsplattform, Kalibrierboard(s), technische Dokumentation und Testberichte. Zudem wird jedes Kit vor der Auslieferung an den Kunden von Samtecs Signalintegritätsexperten getestet und verifiziert.
SI-Evaluierungskits: Kabel
| Kit-Name | Beschreibung | ||
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| AcceleRate® Flyover® SI Evaluierungskit (REF-203425-X.XX-XX) (REF-212901-X.XX-XX-XX) |
Die AcceleRate® Flyover® SI Evaluierungskits routen hochpräzise Differenzialpaare über ARF6-Produktgegenstecker und Twinax-Kabellängen und Präzisions-RF-Steckverbinderoptionen. |
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| AcceleRate® HP Flyover®® SI-Evaluierungskits (REF-230038-X.XX-XX) (REF-231683-X.XX-XX) |
Die AcceleRate® HP Flyover® SI-Evaluierungskits leiten Hochgeschwindigkeitssignale über APF6-L-Steckverbinder, Twinax-Kabel und Präzisions-RF-Steckverbinder-Optionen. |
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| AcceleRate® Flyover® SI-Evaluierungskit (REF-231380-X.XX-XX) |
Das AcceleRate® Mini Flyover® SI-Evaluierungskit leitet hochpräzise Differenzialpaare über mit AMF6-Produkten verbundene Steckverbinder, Twinax-Kabel und Präzisions-HF-Steckverbinder-Optionen. |
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| ExaMAX® Backplane-Kabel SI Evaluierungskit (REF-211825-XX) |
SI-Testplattform zur Evaluierung von ExaMAX® Backplane-Kabelkonfektionen |
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| FQSFP SI Evaluierungskit (REF-205303-X.XX-XX) |
SI-Testplattformen zur Charakterisierung von Flyover-QSFP-Kabelsystemen® mit verschiedenen End 2-Optionen. |
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| FQSFP-DD SI Evaluierungskits (REF-203424-X.XX-XX) (REF-205605-X.XX-XX) (REF-224261-X.XX-XX) |
SI-Testplattformen zur Charakterisierung von Flyover® QSFP-DD Kabelsystemen mit verschiedenen End 2 Optionen. |
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| FQSFP-D8 SI-Evaluierungskits (REF-226551-X.XX-01) (REF-228441-X.XX-01) |
SI-Testplattformen zur Charakterisierung von Flyover® QSFP-D8 Kabelsystemen mit verschiedenen End 2 Optionen. |
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| FSFP SI Evaluierungskit (REF-239635-X.XX-XX) |
SI-Testplattformen zur Charakterisierung von Flyover® SFP-Kabelsystemen mit verschiedenen End 2-Optionen. |
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| NovaRay® Flyover® SI-Evaluierungskit (REF-213732-X.XX-01) |
SI-Testplattform zur Evaluierung von 0.80 mm-Raster NovaRay® Kabelkonfektionen. |
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| NovaRay® I/O Flyover® SI-Evaluierungskit (REF-224735-X.XX-XX) (REF-232667-X.XX-XX) |
SI-Testplattformen zur Charakterisierung NovaRay ® I/O 112 Gbit/s PAM4 Panel-Mount-Kabelsysteme oder NovaRay ® I/O Rugged 38999 Panel-Mount-Kabelsysteme. |
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| NovaRay® mikro-robuste Backplane SI-Evaluierungskit (REF-243175-X.XX-XX) |
SI-Testplattform zur Evaluierung NovaRay ® Micro Rugged Backplane Kabelkonfektionen. |
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| Si-Fly® Flyover® SI-Evaluierungskit (REF-224260-X. XX-01) |
SI-Testplattform zur Bewertung von Si-Fly®-Kabelkonfektionen. |
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| Si-Fly® HD SI Evaluierungskits (REF-246550-X. XX-XX) |
SI-Testplattform zur Evaluierung von Si-Fly® HD Co-Packaged & Near Chip Systemen. |
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| NovaRay® mikro-robuste Backplane SI-Evaluierungskit (REF-243175-XX) |
SI-Testplattform zur Evaluierung NovaRay ® Micro Rugged Backplane Kabelkonfektionen. |
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