Webinar: Doppelhohlräume für die EMI-Leistung von E/A-Steckverbindern

Vorgestellt von: Gary Biddle Techniken, bei denen modusabgestimmte Resonanzhohlräume verwendet werden, um bekannte Feldstärken zu ermitteln, haben es Fachleuten für EMV ermöglicht, internationale Normen für Störfestigkeits- und Emissionsprüfungen zu erstellen. IEC 61000-4 beschreibt die Methodik für die Prüfung elektronischer Geräte in großen Modenverwirbelungskammern [LRC] zur Zertifizierung und Vorhersage der EMI-Leistung von Geräten in der freien Umgebung. Als relativ neue Methode bieten Doppelmodenverwirbelungskammern [DRC] den einzigartigen Vorteil, die elektromagnetische Leistungsübertragung durch ein passives zu prüfendes Gerät [DUT] zu bestimmen. DRCs integrieren Immunitäts- und Emissionsmodus-abgestimmte Techniken zur Bewertung eines Prüfungsobjekts, das in einer angrenzenden Trennwand montiert ist. Die Ergebnisse des Steckverbinder-IO-Produkts können als Schirmungseffektivität [ScrEff] ausgedrückt werden. Die Präsentation zeigt unterstützende, auf den Modus abgestimmte Techniken und Hardware sowie Testergebnisse von Steckverbindern bis 40 GHz.